| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Даниленко, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Ращинский, О. Д. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-11-11T09:05:29Z | - |
| dc.date.available | 2020-11-11T09:05:29Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | - |
| dc.identifier.citation | Даниленко, А. В. Проблемы надежности электронных компонентов / А. В. Даниленко, О. Д. Ращинский // Электронные системы и технологии : сборник тезисов докладов 56-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18–20 мая 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2020. – С. 488. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41001 | - |
| dc.description.abstract | В статье рассмотрены проблемы надежности электронных компонентов, рассмотрены варианты отбраковки ненадежных компонентов и предложен метод пороговой логики для отбраковки заведомо ненадежных электронных компонентов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | электронные компоненты | ru_RU |
| dc.subject | надежность | ru_RU |
| dc.title | Проблемы надежности электронных компонентов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 56-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2020)
|
