| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
| dc.contributor.author | Мрозек, И. | - |
| dc.contributor.author | Ярмолик, С. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-11-23T08:55:42Z | - |
| dc.date.available | 2020-11-23T08:55:42Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | - |
| dc.identifier.citation | Ярмолик, В. Н. Псевдоисчерпывающее тестирование запоминающих устройств на базе маршевых тестов типа March A / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, С. В. Ярмолик // Информатика. – 2020. – № 2 (17). – С. 54–70. – DOI: https://doi.org/10.37661/1816-0301-2020-17-2-54-70. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41195 | - |
| dc.description.abstract | В работе показывается актуальность тестирования запоминающих устройств современных вычислительных систем. Анализируются методы и алгоритмы реализации тестовых процедур на базе классических маршевых тестов. Выделяются многократные маршевые тесты, позволяющие обнаруживать сложные кодочувствительные неисправности памяти. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | ОИПИ НАН Беларуси | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | тестирование вычислительных систем | ru_RU |
| dc.subject | маршевые тесты памяти | ru_RU |
| dc.title | Псевдоисчерпывающее тестирование запоминающих устройств на базе маршевых тестов типа March A | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
