Прогнозирование надежности изделий электронной техники с использованием деградационных моделей функциональных параметров

Abstract

Причины возникновения внезапных отказов изделий электронной техники (ИЭТ) могут быть в значительной мере устранены. Постепенные (деградационные) отказы исключить невозможно. В современных электронных устройствах общее количество ИЭТ велико и аддитивное влияние изменений функциональных параметров элементов вследствие медленной деградации может наложить заметный отпечаток на поведение выходного параметра электронного устройства в целом. При повышенных электрических, температурных, климатических и прочих нагрузках физико-химические процессы деградации ускоряются, и при этом возрастает количество постепенных отказов. Для получения достоверного прогноза об отказе надо располагать количественной моделью надёжности в виде зависимости деградации функционального параметра ИЭТ от времени, температуры и других эксплуатационных факторов.