| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Чан Туан Чунг | - |
| dc.contributor.author | Нелаев, В. В. | - |
| dc.contributor.author | Стемпицкий, В. Р. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-12-16T09:21:01Z | - |
| dc.date.available | 2020-12-16T09:21:01Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Чан Туан Чунг. Статистические аспекты сквозного моделирования ИМС / Чан Туан Чунг, Нелаев В. В., Стемпицкий В. Р. // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно-технической конференции, Браслав, 24–28 мая 2010 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2010. – С. 122–123. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41773 | - |
| dc.description.abstract | Важнейшей задачей проектирования изделий микроэлектроники является повышение технологичности производства с целью обеспечения максимального процента выхода годных изделий и получения наилучших характеристик схемы/системы, минимизации их чувствительности к случайным отклонениям (флуктуациям) значений технологических параметров. Проведен анализ существующих методов и программных средств, используемых для проведения статистического анализа и оптимизации параметров схемы/системы. Показано, что наиболее эффективным методом для решения указанной задачи является метод поверхности откликов (МПО). | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | микроэлектроника | ru_RU |
| dc.subject | метод поверхности откликов | ru_RU |
| dc.subject | сквозной статистический анализ | ru_RU |
| dc.title | Статистические аспекты сквозного моделирования ИМС | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2010
|
