https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42103| Title: | Статистическая обработка результатов измерения параметров полупроводниковых приборов |
| Authors: | Павлов, П. Г. Толкун, А. В. Волчёк, С. А. |
| Keywords: | материалы конференций;полупроводниковые приборы;интегральные микросхемы;статистический анализ |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Павлов, П. Г. Статистическая обработка результатов измерения параметров полупроводниковых приборов / Павлов П. Г., Толкун А. В., Волчёк С. А. // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно-технической конференции, Браслав, 24–28 мая 2010 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2010. – С. 121–122. |
| Abstract: | Результаты измерения и моделирования, используемые на различных этапах изготовления и проектирования ИМС для расчета статистических оценок, проведения статистического анализа и аппроксимации, зачастую содержат ошибки и погрешности, которые могут существенно сказываться на адекватности результатов статистических исследований. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42103 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2010 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Pavlov_Statisticheskaya.pdf | 93.61 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.