https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42931
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
dc.contributor.author | Брылева, О. А. | - |
dc.date.accessioned | 2021-02-11T06:40:18Z | - |
dc.date.available | 2021-02-11T06:40:18Z | - |
dc.date.issued | 2013 | - |
dc.identifier.citation | Способ испытания микроконтроллеров на устойчивость к воздействию электростатических разрядов : пат. 17253 Респ. Беларусь : МПК (2006) G 01R 31/26, G 11C 29/52 / Пискун Г. А., Алексеев В. Ф., Брылева О. А. ; заявитель и патентообладатель УО Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – № a 20120290 ; заявл. 28.02.2012 ; опубл. 30.06.2013. – 3 с. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42931 | - |
dc.description.abstract | Способ испытания микроконтроллеров на устойчивость к воздействию электростатических разрядов (ЭСР), характеризующийся тем, что осуществляют контактные воздействия ЭСР на выводы микроконтроллеров испытуемой партии при ступенчатом повышении испытательного напряжения, сверяют значения электрических параметров микроконтроллеров с их эталонными значениями для установления критического напряжения ЭСР и одновременно сверяют значения символьных данных, содержащихся в виде программного обеспечения во flash-памяти микроконтроллеров, с их эталонными значениями для обнаружения изменений в программном коде и установления соответствующего критического напряжения ЭСР. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Национальный центр интеллектуальной собственности | ru_RU |
dc.subject | патенты | ru_RU |
dc.subject | микроконтроллеры | ru_RU |
dc.subject | электростатические разряды | ru_RU |
dc.title | Способ испытания микроконтроллеров на устойчивость к воздействию электростатических разрядов | ru_RU |
dc.title.alternative | Пат. 17253 Респ. Беларусь | ru_RU |
dc.type | Другое | ru_RU |
Appears in Collections: | Изобретения |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.