Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42963
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСокол, В. А.-
dc.contributor.authorШиманович, Д. Л.-
dc.contributor.authorЯрошевич, И. В.-
dc.date.accessioned2021-02-12T09:51:20Z-
dc.date.available2021-02-12T09:51:20Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationСпособ изготовления основания для многокристального микроэлектронного модуля : пат. 20350 Респ. Беларусь : МПК (2006) H 05K 1/05 / Сокол В. А., Шиманович Д. Л., Ярошевич И. В. ; заявитель и патентообладатель УО Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – № a 20130017 ; заявл. 30.04.2013 ; опубл. 30.08.2016. – 5 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42963-
dc.description.abstractСпособ изготовления основания для многокристального микроэлектронного модуля, в котором предварительно обрабатывают заготовку указанного основания, выполненную из алюминия или сплава на его основе, до получения заданной шероховатости ее поверхности, а также осуществляют ее термообработку при температуре от 500 до 550 °С в течение промежутка времени от 10 до 20 мин, затем формируют на поверхности заготовки методом электрохимического анодирования слой пористого оксида алюминия глубиной от 2 до 5 мкм при анодном напряжении от 10 до 15 В, затем вторично анодируют ту же сторону заготовки при напряжении, оптимальном для используемого электролита, формируя на ней слой пористого оксида алюминия требуемой глубины, далее проводят анодирование той же стороны заготовки в течение промежутка времени от 2 до 5 мин при напряжении, в 2-4 раза большем или меньшем напряжения при вторичном анодировании, либо при переменном напряжении с амплитудой от 0,5 до 1,0 от напряжения при вторичном анодировании, а затем заполняют поры образованного оксидного слоя жидким позитивным либо негативным фоторезистом, высушивают полученную структуру при температуре от 100 до 120 °С и выдерживают ее при температуре от 300 до 350 °С в течение промежутка времени от 0,5 до 1 ч, после чего механически полируют ее поверхность.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherНациональный центр интеллектуальной собственностиru_RU
dc.subjectпатентыru_RU
dc.subjectмикроэлектроникаru_RU
dc.subjectмногокристальные модулиru_RU
dc.subjectинтегральные микросхемыru_RU
dc.titleСпособ изготовления основания для многокристального микроэлектронного модуляru_RU
dc.title.alternativeПат. 20350 Респ. Беларусьru_RU
dc.typeДругоеru_RU
Appears in Collections:Изобретения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
20350.pdf91.37 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.