| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Даниленко, А. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-05-25T10:57:59Z | - |
| dc.date.available | 2021-05-25T10:57:59Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | - |
| dc.identifier.citation | Даниленко, А. В. Анализ механизмов нарушающих функционирование микросхем = Analysis of mechanisms disturing the functioning of microcircuits / А. В. Даниленко // Электронные системы и технологии : сборник материалов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 19-23 апреля 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2021. – С. 624–627. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43711 | - |
| dc.description.abstract | Надежность интегральных микросхем определяется надежностью, входящих в него элементов. Для обеспечения качественного функционирования устройства необходимо убедиться, что элементы, входящие в ее состав, обладают значениями надежности достаточными для безотказной работы всей системы. В статье рассмотрены несколько возможных причин отказов интегральных микросхем. The reliability of integrated circuits is determined by the reliability of the elements included in it. To ensure the high-quality functioning of the device, it is necessary to make sure that the elements that make up it have reliability values sufficient for the failure-free operation of the entire system. The article discusses several possible causes of failures of integrated circuits. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | отказ микросхем | ru_RU |
| dc.subject | микроэлектроника | ru_RU |
| dc.subject | microcircuit failure | ru_RU |
| dc.subject | microelectronics | ru_RU |
| dc.title | Анализ механизмов нарушающих функционирование микросхем | ru_RU |
| dc.title.alternative | Analysis of mechanisms disturing the functioning of microcircuits | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 57-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)
|
