Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43792
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЖданович, В. П.-
dc.contributor.authorГолубева, И. А.-
dc.contributor.authorБруй, Н. М.-
dc.date.accessioned2021-05-31T07:48:17Z-
dc.date.available2021-05-31T07:48:17Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationЖданович, В. П. Обработка результатов испытаний на надежность полупроводниковых приборов с помощью библиотек Python = The results of reliability tests of semiconductor devices analysis using Python libraries / В. П. Жданович, И. А. Голубева, Н. М. Бруй // Электронные системы и технологии : сборник материалов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 19-23 апреля 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2021. – С. 646–648.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43792-
dc.description.abstractПри сборе большого количества данных об электрических параметрах приборов важно рационально осуществлять анализ получаемых значений. Выводы удобно делать при оценке графических представлений результатов, однако вручную строить графики для каждого параметра является нецелесообразным, в этом могут помочь библиотеки языка программирования Python. Collecting a large amount of data on the electrical parameters of devices, it is important to analyze the obtained values rationally Conclusions can be done easily by a graphical presentation of the results; however, it is impractical to manually build graphs for each parameter. Python programming language libraries can help in this.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectобработка данныхru_RU
dc.subjectанализ данныхru_RU
dc.subjectPythonru_RU
dc.subjectdata processingru_RU
dc.subjectdata analysisru_RU
dc.titleОбработка результатов испытаний на надежность полупроводниковых приборов с помощью библиотек Pythonru_RU
dc.title.alternativeThe results of reliability tests of semiconductor devices analysis using Python librariesru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 57-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Zhdanovich_Obrabotka.pdf407.69 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.