Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43869
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorBavbel, E. I.-
dc.contributor.authorAlekseev, V. F.-
dc.contributor.authorPiskun, G. A.-
dc.date.accessioned2021-06-03T08:35:44Z-
dc.date.available2021-06-03T08:35:44Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.citationBavbel, E. I. Simulation of the complex impact of thermal and shock loads on electronic modules / E. I. Bavbel, V. F. Alekseev, G. A. Piskun // Современные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : сб. науч. тр. / Севастопольский государственный университет ; редкол.: А. А. Савочкин [и др.]. – Севастополь, 2020. – № 3. – С. 176.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43869-
dc.description.abstractA technique for the optimal design of electronic modules is proposed. At the same time, the methodology is based on the system principles of the analysis of complex systems, complex modeling of physical processes in electronic modules and finding optimal solutions.ru_RU
dc.language.isoenru_RU
dc.publisherСевастопольский государственный университетru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectthermal shockru_RU
dc.subjectshock loadsru_RU
dc.subjectelectronic modulesru_RU
dc.titleSimulation of the complex impact of thermal and shock loads on electronic modulesru_RU
dc.title.alternativeМоделирование комплексного воздействия тепловых и ударных нагрузок на электронные модулиru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Bavbel_Simulation1.pdf1.37 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.