| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-17T12:20:22Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-17T12:20:22Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | - |
| dc.identifier.citation | Деменковец, Д. В. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей / Д. В. Деменковец // Компьютерные системы и сети: 57-я научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 19-23 апреля 2021 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2021. – С. 37–38. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44240 | - |
| dc.description.abstract | Анализируется эффективность применения неразрушающих тестов для тестирования запоминающих устройств (ЗУ). Синтезируется базовый элемент неразрушающих тестов с применением двойных адресных последовательностей. Приводится неразрушающий тест ЗУ March_2А_1 для которого оценивается его временная сложность и эффективность обнаружения
неисправностей ЗУ. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | тестирование запоминающих устройств | ru_RU |
| dc.subject | двойные адресные последовательности | ru_RU |
| dc.title | Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник тезисов докладов (2021)
|
