| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Хомец, А. Л. | - |
| dc.contributor.author | Холяво, И. И. | - |
| dc.contributor.author | Сафронов, И. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-23T10:58:38Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-23T10:58:38Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | - |
| dc.identifier.citation | Хомец, А. Л. Влияние ориентации свободной поверхности в слоистых Si/Ge пленках на поперечную решеточную теплопроводность / Хомец А. Л., Холяво И. И., Сафронов И. В. // Радиотехника и электроника : сборник тезисов докладов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, апрель 2021 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2021. – С. 108–109. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44375 | - |
| dc.description.abstract | В данной работе представлены результаты исследования теплопроводности для тонких слоистых пленок Si/Ge с (110), (100) и (111) кристаллографическими ориентациями. Установлены морфологии слоистых тонких плѐнок с минимальными значениями теплопроводности, а также выявлено влияние количества и толщины индивидуальных слоев на решеточную теплопроводность. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | теплопроводность | ru_RU |
| dc.subject | решетчатая теплопроводность | ru_RU |
| dc.subject | кристаллография | ru_RU |
| dc.title | Влияние ориентации свободной поверхности в слоистых Si/Ge пленках на поперечную решеточную теплопроводность | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Радиотехника и электроника : материалы 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)
|
