| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
| dc.contributor.author | Мрозек, И. | - |
| dc.contributor.author | Леванцевич, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-07-06T08:47:34Z | - |
| dc.date.available | 2021-07-06T08:47:34Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | - |
| dc.identifier.citation | Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей / Ярмолик В. Н. [и др.] // Доклады БГУИР. – 2021. – № 19(4). – С. 43–51. – DOI : http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-4-43-51. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44685 | - |
| dc.description.abstract | Анализируется эффективность применения классических неразрушающих тестов для тестирования запоминающих устройств (ЗУ) и их основные недостатки, среди которых выделяют большую временную сложность и низкую диагностическую способность. Определяется понятие двойной адресной последовательности 2A и приводятся примеры их формирования на базе счетчиковых адресных последовательностей и последовательностей кода Грея. Синтезируется базовый элемент неразрушающих тестов с применением двойных адресных последовательностей и исследуются его обнаруживающая и диагностическая способности для различных неисправностей ЗУ. Приводятся два новых неразрушающих теста ЗУ March_2А_1 и March_2А_2, для которых оценивается их временная сложность и эффективность обнаружения неисправностей ЗУ. Показывается существенно меньшая временная сложность предложенных тестов и высокая диагностическая способность по сравнению с классическими неразрушающими тестами. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | неразрушающее тестирование | ru_RU |
| dc.subject | запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.subject | вычислительные системы | ru_RU |
| dc.subject | non-destructive testing | ru_RU |
| dc.subject | storage devices | ru_RU |
| dc.subject | computing systems | ru_RU |
| dc.title | Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей | ru_RU |
| dc.title.alternative | Transparent memory testing based on dual address sequences | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | An effectiveness of the application of classical non-destructive tests for testing storage devices and their main disadvantages, among which there are great time complexity and low diagnostic ability, are analysed. The concept of double address sequence 2A is defined and the examples of their formation based on counter address sequences and Gray code are provided. The basic element of non-destructive tests with the use of double address sequences is synthesized and its detecting and diagnostic abilities for different storage devices defects are explored. There are two new non-destructive tests of memory devices March_2A_1 and March_2A_2 and an estimation of their time complexity and efficiency of failure detection are given. A significantly lower time complexity of the proposed tests and their high diagnostic ability in comparison with classical non-destructive tests are shown. | - |
| Appears in Collections: | № 19(4)
|
