| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Лыньков, Л. М. | - |
| dc.contributor.author | Таболич, Т. Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-09-13T06:51:14Z | - |
| dc.date.available | 2021-09-13T06:51:14Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Лыньков, Л. М. Отбраковочные испытания электронных пластиковых карт / Лыньков Л. М., Таболич Т. Г. // Доклады БГУИР. – 2005. – № 5. – С. 57–59. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45213 | - |
| dc.description.abstract | В настоящее время электронные пластиковые карты (ЭПК) получили широкое распространение в таких областях человеческой деятельности как коммуникационная, финансово-экономическая, торговая, бытовая. При эксплуатации ЭПК имеют место сбои и отказы в работе. Целью данной работы являлось выявление потенциально ненадежных элементов ЭПК. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | электронные пластиковые карты | ru_RU |
| dc.subject | отбраковочные испытания | ru_RU |
| dc.subject | телефонные электронные пластиковые карты | ru_RU |
| dc.title | Отбраковочные испытания электронных пластиковых карт | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | №5
|
