| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.contributor.author | Мандик, Н. Е. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-09-14T11:48:28Z | - |
| dc.date.available | 2021-09-14T11:48:28Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Боровиков, С. М. Эффективность прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов методом имитационных воздействий / Боровиков С. М., Мандик Н. Е. // Доклады БГУИР. – 2005. – № 5. – С. 85. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45289 | - |
| dc.description.abstract | Для индивидуального прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов можно использовать метод имитационных воздействий. В него основу положен принцип статистической аналогии между изменениями параметра, обусловленными длительным функционированием транзисторов, и изменениями этого же параметра, вызываемыми действием в начальный момент времени имитационного фактора, не приводящего к уменьшению рабочего ресурса прибора. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | биполярные транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | имитационные воздействия | ru_RU |
| dc.subject | методы прогнозирования | ru_RU |
| dc.title | Эффективность прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов методом имитационных воздействий | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | №5
|
