| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
| dc.contributor.author | Мрозек, И. | - |
| dc.contributor.author | Леванцевич, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-11-18T11:19:12Z | - |
| dc.date.available | 2021-11-18T11:19:12Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | - |
| dc.identifier.citation | Неразрушающие тесты с четным повторением адресов для запоминающих устройств / В. Н. Ярмолик [и др.] // Информатика. – 2021 . − Т. 18, № 3. – С. 18–35. – DOI : https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-3-18-35. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45946 | - |
| dc.description.abstract | В статье показывается актуальность задачи тестирования запоминающих устройств современных вычислительных систем. Исследуются математические модели неисправностей этих устройств и используемые методы тестирования наиболее сложных из них на базе классических неразрушающих маршевых тестов. Вводится понятие адресных последовательностей (pA) с четным повторением адресов, которые являются основой базового элемента, входящего в структуру новых неразрушающих маршевых тестов March_pA_1 и March_pA_2. Приводятся алгоритмы формирования подобных последовательностей и примеры их реализации. Показывается максимальная диагностическая способность новых тестов для случая простейших неисправностей, таких как константные (SAF) и переходные (TF), а также сложных кодочувствительных неисправностей (PNPSFk). | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Объединенный институт проблем информатики Национальной академии наук Беларуси | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | тестирование вычислительных систем | ru_RU |
| dc.subject | запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.subject | многократное неразрушающее тестирование | ru_RU |
| dc.title | Неразрушающие тесты с четным повторением адресов для запоминающих устройств | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
