| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
| dc.contributor.author | Леванцевич, В. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-11-30T08:55:06Z | - |
| dc.date.available | 2021-11-30T08:55:06Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | - |
| dc.identifier.citation | Деменковец, Д. В. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей / Д. В. Деменковец, В. А. Леванцевич // Информационные технологии и системы 2021 (ИТС 2021) = Information Teсhnologies and Systems 2021 (ITS 2021) : материалы международной научной конференции, Минск, 24 ноября 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск, 2021. – С. 118–119. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46056 | - |
| dc.description.abstract | Анализируется эффективность применения классических неразрушающих тестов для тестирования запоминающих устройств и их основные недостатки, среди которых выделяют большую временную сложность и низкую частотную способность. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.subject | двойные адресные последовательности | ru_RU |
| dc.title | Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ИТС 2021
|
