Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46610
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПетровская, В. В.-
dc.contributor.authorДеменковец, Д. В.-
dc.date.accessioned2022-01-31T06:49:12Z-
dc.date.available2022-01-31T06:49:12Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationПетровская, В. В. Анализ эффективности обнаружения кодочувствительных неисправностей маршевыми тестами / Петровская В. В., Деменковец Д. В. // Endless light in Science: международный научно-практический журнал. – 2021. – № 3(1). – С. 113–117.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46610-
dc.description.abstractСтатья посвящена обнаружению кодочувствительных неисправностей запоминающих элементов. В тексте рассмотрены тенденции развития запоминающих устройств и современные проблемы тестирования, приведена обобщенная схема системы памяти, классификация моделей неисправностей и используемый подход к тестированию. Статья содержит результаты обнаружения кодочувствительных неисправностей некоторыми маршевыми тестами и их анализ.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherОФ «Международный исследовательский центр «Endless Light in Science»ru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectзапоминающие устройстваru_RU
dc.subjectкодочувствительные неисправностиru_RU
dc.subjectмаршевые тестыru_RU
dc.titleАнализ эффективности обнаружения кодочувствительных неисправностей маршевыми тестамиru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Petrovskaya_Analiz.pdf855.99 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.