| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Калита, Е. В. | - |
| dc.contributor.author | Казючиц, В. О. | - |
| dc.date.accessioned | 2022-05-24T07:47:32Z | - |
| dc.date.available | 2022-05-24T07:47:32Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Калита, Е. В. Ускоренные испытания биполярных транзисторов большой мощности на длительную наработку / Е. В. Калита, В. О. Казючиц // Электронные системы и технологии [Электронный ресурс] : сборник материалов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18-22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2022. – С. 57–59. – Режим доступа : https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46926. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47085 | - |
| dc.description.abstract | Обоснованы условия проведения ускоренных форсированных испытаний биполярных транзисторов большой мощности типа КТ872А. В качестве факторов, ускоряющих испытания, выбраны повышенная температура и обратное напряжение, прикладываемое к коллектору транзисторов. Рассчитан коэффициент ускорения испытаний относительно рабочего режима работы транзисторов. The conditions for conducting accelerated forced tests of high-power bipolar transistors of the KT872A type are substantiated. Elevated temperature and reverse voltage applied to the collector of transistors are chosen as factors accelerating the tests. The test acceleration coefficient was calculated relative to the operating mode of transistors. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.subject | постепенные отказы | ru_RU |
| dc.subject | методы имитационных воздействий | ru_RU |
| dc.subject | ускоренные испытания | ru_RU |
| dc.subject | Эйринга модель | ru_RU |
| dc.subject | semiconductor devices | ru_RU |
| dc.subject | gradual failures | ru_RU |
| dc.subject | simulation method | ru_RU |
| dc.subject | accelerated testing | ru_RU |
| dc.subject | Ayring model | ru_RU |
| dc.title | Ускоренные испытания биполярных транзисторов большой мощности на длительную наработку | ru_RU |
| dc.title.alternative | Accelerated tests of high power bipolar transistors for long operation | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 58-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2022)
|
