DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Казючиц, В. О. | - |
dc.date.accessioned | 2022-05-24T08:36:21Z | - |
dc.date.available | 2022-05-24T08:36:21Z | - |
dc.date.issued | 2022 | - |
dc.identifier.citation | Казючиц, В. О. Определение теплового сопротивления кристалл-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным признакам с использованием уравнения регрессии / В. О. Казючиц // Электронные системы и технологии [Электронный ресурс] : сборник материалов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18-22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2022. – С. 60–63. – Режим доступа : https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46926. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47090 | - |
dc.description.abstract | На примере полевых транзисторов большой мощности типа КП744А показана возможность оценки теплового сопротивления кристалл–корпус, используя косвенные электрические параметры, подставляемые в модель прогнозирования в виде уравнения регрессии. On the example of high-power field-effect transistors of the KP744A type, the possibility of estimating of the thermal resistance of the crystal-case is shown using indirect electrical parameters substituted into the prediction model in the form of a regression equation. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
dc.subject | информативные параметры | ru_RU |
dc.subject | тепловое сопротивление кристалл-корпус | ru_RU |
dc.subject | уравнение регрессии | ru_RU |
dc.subject | semiconductor devices | ru_RU |
dc.subject | informative parameters | ru_RU |
dc.subject | thermal resistance of the crystal-case | ru_RU |
dc.subject | regression equation | ru_RU |
dc.title | Определение теплового сопротивления кристалл-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным признакам с использованием уравнения регрессии | ru_RU |
dc.title.alternative | Determination of the thermal resistance of junction-case of powerful semiconductor devices by indirect features using regression equation | ru_RU |
dc.type | Статья | ru_RU |
Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 58-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2022)
|