| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Белоус, А. | - |
| dc.contributor.author | Ефименко, С. | - |
| dc.contributor.author | Смолич, В. | - |
| dc.coverage.spatial | Москва | - |
| dc.date.accessioned | 2022-09-15T07:31:30Z | - |
| dc.date.available | 2022-09-15T07:31:30Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Белоус А. Особенности организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур / Белоус А., Ефименко С., Смолич В. // Электроника: наука, технология, бизнес. – 2022. – №6. – С. 158 – 166. – DOI: 10.22184/1992-4178.2022.217.6.158.166. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48080 | - |
| dc.description.abstract | Для электронной аппаратуры важно обеспечивать работоспособность в широком диапазоне температур окружающей среды, которая определяется в первую очередь работоспособностью используемой элементной компонентной базы (ЭКБ). В статье приведены обзор и классификация оборудования для тестирования в серийном производстве микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур. Показано, что для тестирования могут применяться как автоматизированные, так и неавтоматизированные системы. Приведены основные характеристики различных серийно выпускаемых устройств для задания температур. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | РИЦ Техносфера | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | автоматизация измерений | ru_RU |
| dc.subject | хендлеры | ru_RU |
| dc.subject | гравитационные хендлеры | ru_RU |
| dc.subject | проходные камеры | ru_RU |
| dc.title | Особенности организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| local.description.annotation | The article presents an overview, classification and main characteristics of equipment for serial production testing of ICs and semiconductor devices in a wide temperature range. It is shown that both automated and non-automated systems can be used for testing. | - |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
