| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
| dc.contributor.author | Петровская, В. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | - |
| dc.date.accessioned | 2022-09-28T13:55:23Z | - |
| dc.date.available | 2022-09-28T13:55:23Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Деменковец, Д. В. Подходы к тестированию запоминающих устройств / Деменковец Д. В., Петровская В. В. // Компьютерные системы и сети : сборник статей 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 18–22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2022. – С. 121–123. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48248 | - |
| dc.description.abstract | Тезис посвящен подходам к тестированию запоминающих устройств. В тексте рассмотрены основные модели неисправностей, примеры традиционных методов тестирования и маршевые тесты. Особое внимание уделено теме многократного неразрушающего тестирования. В работе приведены достоинства и недостатки исчерпывающего тестирования. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.subject | вычислительные системы | ru_RU |
| dc.subject | тестирование | ru_RU |
| dc.title | Подходы к тестированию запоминающих устройств | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2022)
|
