| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Казючиц, В. О. | - |
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.contributor.author | Шнейдеров, Е. Н. | - |
| dc.contributor.author | Жданович, В. П. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | - |
| dc.date.accessioned | 2022-09-30T10:00:16Z | - |
| dc.date.available | 2022-09-30T10:00:16Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Некоторые подходы к обработке больших объёмов экспериментальных данных, получаемых при испытании выборок полупроводниковых приборов = Some approaches to the processing of large volumes of experimental data obtained when testing samples of same-type semiconductor devices / В. О. Казючиц [и др.] // BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : VIII Международная научно-практическая конференция : сборник материалов VIII Международной научно-практической конференции, Минск, 11–12 мая 2022 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. А. Богуш [и др.]. – Минск : Бестпринт, 2022. – С. 39–45. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48297 | - |
| dc.description.abstract | На примере больших объёмов экспериментальных данных, получаемых при испытаниях выборок полупроводниковых приборов на длительную наработку, рассматривается эффективность
возможных подходов к их анализу и обработке. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Бестпринт | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.subject | обработка данных | ru_RU |
| dc.subject | большие данные | ru_RU |
| dc.subject | semiconductor devices | ru_RU |
| dc.subject | data processing | ru_RU |
| dc.subject | big data | ru_RU |
| dc.title | Некоторые подходы к обработке больших объёмов экспериментальных данных, получаемых при испытании выборок полупроводниковых приборов | ru_RU |
| dc.title.alternative | Some approaches to the processing of large volumes of experimental data obtained when testing samples of same-type semiconductor devices | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| local.description.annotation | On the example of large volumes of experimental data obtained when testing samples of semiconductor devices for long-term operation, the effectiveness of possible approaches to their analysis and processing is considered. | - |
| Appears in Collections: | BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : материалы конференции (2022)
|
