| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Титович, Н. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | - |
| dc.date.accessioned | 2022-10-04T11:28:59Z | - |
| dc.date.available | 2022-10-04T11:28:59Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Титович, Н. А. Особенности экранирования аппаратуры, подверженной действию ВЧ- и СВЧ-помех / Н. А. Титович // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХX Белорусско-российской научно-технической конференции, Минск, 7 июня 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Т. В. Борботько [и др.]. – Минск, 2022. – С. 102. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48372 | - |
| dc.description.abstract | При проектировании специальной аппаратуры, работающей в сложной
электромагнитной обстановке. важно не только обеспечить ее защиту от воздействия
ВЧ и СВЧ электромагнитных помех (ЭМП), но и исключить ее электромагнитные
излучения, позволяющие извлечь информацию об особенностях работы. Отказы
в работе быстродействующих и восприимчивых к воздействию ЭМП систем чаще всего
являются обратимыми и поэтому трудно прогнозируемыми. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | электромагнитные помехи | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.title | Особенности экранирования аппаратуры, подверженной действию ВЧ- и СВЧ-помех | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2022
|
