| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ефименко, С. А. | - |
| dc.contributor.author | Смолич, В. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | - |
| dc.date.accessioned | 2022-11-30T09:04:53Z | - |
| dc.date.available | 2022-11-30T09:04:53Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Ефименко, С. А. Классификация устройств для организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур = Classification of devices for the organization of ECB testing in the Temperature range / Ефименко С. А., Смолич В. А. // Приборостроение – 2022 : материалы 15-й Международной научно-технической конференции, Минск, 16–18 ноября 2022 г. / Белорусский национальный технический университет. – Минск, 2022. – С. 2. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/49215 | - |
| dc.description.abstract | Работоспособность электронной аппаратуры в широком диапазоне температур окружающей среды определяется в первую очередь работоспособностью используемой элементной компонентной базы (ЭКБ). В работе приведены обзор и классификация оборудования для тестирования в серийном производстве микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур. Показаны основные характеристики автоматизированных и неавтоматизированных устройств, предназначенных для задания температур при тестировании. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БНТУ | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | микросхемы | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.title | Классификация устройств для организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур | ru_RU |
| dc.title.alternative | Classification of devices for the organization of ECB testing in the Temperature range | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
