Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50274
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСвирид, В. Л.-
dc.coverage.spatialМоскваru_RU
dc.date.accessioned2023-02-28T12:33:16Z-
dc.date.available2023-02-28T12:33:16Z-
dc.date.issued1980-
dc.identifier.citationУстройство для измерения температурных коэффициентов составляющих дрейфа параметров полевых транзисторов : а. с. 737891 СССР : МПК G 01 R 31/26 / Свирид В. Л. ; заявитель и патентообладатель Минский радиотехнический институт. – №2523991/18-25; заявл. 14.09.1977 ; опубл. 30.05.1980. – 6 с. : ил.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50274-
dc.description.abstractИзобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения температурных коэффициентов составляющих дрейфа параметров полевых транзисторов, обусловленных подвижностью носителей заряда в канале и контактной разностью потенциалов между затвором и каналом, с повышенной точностью и быстродействием и может быть использовано при технологическом контроле тепловых и других параметров полевых транзисторов различных типов.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherГосударственный комитет СССР по делам изобретений и открытийru_RU
dc.subjectпатентыru_RU
dc.subjectизмерительная техникаru_RU
dc.subjectполевые транзисторыru_RU
dc.subjectизмерение температурыru_RU
dc.titleУстройство для измерения температурных коэффициентов составляющих дрейфа параметров полевых транзисторовru_RU
dc.title.alternativeА. с. 737891 СССРru_RU
dc.typeOtherru_RU
Appears in Collections:Изобретения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Pat_737891.pdf575.31 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.