Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50451
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДавыдов, Г. В.-
dc.contributor.authorПавлович, Э. Г.-
dc.contributor.authorФестовец, Е. П.-
dc.coverage.spatialМоскваru_RU
dc.date.accessioned2023-03-13T08:50:03Z-
dc.date.available2023-03-13T08:50:03Z-
dc.date.issued1982-
dc.identifier.citationСпособ определения устойчивости диодов к механическим воздействиям : а. с. 958985 СССР : МПК G 01 R 31/26 / Давыдов Г. В., Павлович Э. Г., Фестовец Е. П. ; заявитель и патентообладатель Минский радиотехнический институт. – № 2909601/18-21 ; заявл. 08.04.1980 ; опубл. 15.09.1982. – 3 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50451-
dc.description.abstractИзобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения устойчивости диодов к механическим воздействием.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherГосударственный комитет СССР по делам изобретений и открытийru_RU
dc.subjectпатентыru_RU
dc.subjectизмерительная техникаru_RU
dc.subjectдиодыru_RU
dc.titleСпособ определения устойчивости диодов к механическим воздействиямru_RU
dc.title.alternativeА. с. 958985 СССРru_RU
dc.typeOtherru_RU
Appears in Collections:Изобретения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Pat_958985.pdf237.79 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.