| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Лифанов, Д. В. | - |
| dc.contributor.author | Хлопов, Ю. Н. | - |
| dc.contributor.author | Чернуха, Б. Н. | - |
| dc.coverage.spatial | Москва | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2023-03-14T08:04:08Z | - |
| dc.date.available | 2023-03-14T08:04:08Z | - |
| dc.date.issued | 1982 | - |
| dc.identifier.citation | Способ контроля прочности внутренних выводов полупроводниковых интегральных схем : а. с. 979935 СССР : МПК G 01 M 7/00 / Лифанов Д. В., Хлопов Ю. Н., Чернуха Б. Н. ; заявитель и патентообладатель Минский радиотехнический институт. – № 3257495/25-28 ; заявл. 23.02.1981 ; опубл. 07.12.1982. – 3 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50478 | - |
| dc.description.abstract | Изобретение относится к контрольно-испытательной технике. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий | ru_RU |
| dc.subject | патенты | ru_RU |
| dc.subject | контрольно-испытательная техника | ru_RU |
| dc.subject | полупроводники | ru_RU |
| dc.subject | интегральные схемы | ru_RU |
| dc.title | Способ контроля прочности внутренних выводов полупроводниковых интегральных схем | ru_RU |
| dc.title.alternative | А. с. 979935 СССР | ru_RU |
| dc.type | Other | ru_RU |
| Appears in Collections: | Изобретения
|
