Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5081
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДолбик, А. В.-
dc.contributor.authorЗубов, А. Ю.-
dc.contributor.authorКрисевич, С. Н.-
dc.contributor.authorСычевич, А. С.-
dc.contributor.authorКороткевич, А. В.-
dc.contributor.authorЛазарук, С. К.-
dc.contributor.authorЛабунов, В. А.-
dc.date.accessioned2015-11-20T11:43:55Z-
dc.date.accessioned2017-07-13T06:27:05Z-
dc.date.available2015-11-20T11:43:55Z-
dc.date.available2017-07-13T06:27:05Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationУвеличение механического импульса в микроэлектромеханических системах, использующих энергию горения нанопористого кремния / А. В. Долбик [ и др.] // Доклады БГУИР. - 2015. - № 6 (92). - С. 90 - 93.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5081-
dc.description.abstractПроцесс горения нанопористого кремния с межпоровым пространством, заполненным твердотельным окислителем, исследовался с целью его использования в качестве источника энергии для механического движения микроэлектромеханических систем с реактивной тягой. Исследования показали, что механический импульс микросистемы с кремниевым чипом площадью 1 см2 может быть увеличен до 130 мН с за счет увеличения объема нанопористого кремния, а также за счет увеличения массы несущей платформы.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectнанопористый кремнийru_RU
dc.subjectокислительru_RU
dc.subjectмеханический импульсru_RU
dc.titleУвеличение механического импульса в микроэлектромеханических системах, использующих энергию горения нанопористого кремнияru_RU
dc.title.alternativeMechanical impulse enhancement in MEMS using porous silicon combustion processru_RU
dc.typeArticleru_RU
local.description.annotationNanostructured porous silicon impregnated by solid state oxidants has been studied in order to provide the mechanical impulse for jet-propulsion microsystems. The system with jet-propulsion movement on a silicon chip has been used for impulse measurements. The estimated impulse value is in the range of 25-130 mN·s by using of carrying platform for Si chips.-
Appears in Collections:№6 (92)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Dolbik_Uvelicheniye.PDF806.09 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.