| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Стасюк, Д. М. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-11-30T11:42:25Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-20T08:36:30Z | - |
| dc.date.available | 2015-11-30T11:42:25Z | |
| dc.date.available | 2017-07-20T08:36:30Z | - |
| dc.date.issued | 2001 | - |
| dc.identifier.citation | Стасюк, Д. М. Прогнозирование надёжности биполярных транзисторов с использованием принципов пороговой логики методом троичного преобразования информативных параметров : автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Д. М. Стасюк; науч. рук. С. М. Боровиков. - Мн.: БГУИР, 2001. - 19 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5108 | - |
| dc.description.abstract | Систематизированы вероятностные связи (закономерности) информативных параметров транзисторов с уровнем их работоспособности. Предложен метод, позволяющий в отличие от базового метода пороговой логики использо¬вать для выполнения прогнозирования информативные параметры с разными закономерностями. Он основан на преобразовании информативных параметров в троичный код и принятии решения о работоспособности транзистора по на¬бору троичных чисел. Показано, что метод даёт лучшие результаты прогнозирования нежели базовый метод пороговой логики, но является сложнее. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | биполярные транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | надёжность | ru_RU |
| dc.subject | работоспособность | ru_RU |
| dc.subject | индивидуальное прогнозирование | ru_RU |
| dc.subject | информативные параметры | ru_RU |
| dc.subject | метод пороговой логики | ru_RU |
| dc.subject | троичное преобразование | ru_RU |
| dc.subject | bipolar transistors | ru_RU |
| dc.subject | reliability | ru_RU |
| dc.subject | up state | ru_RU |
| dc.subject | individual prediction | ru_RU |
| dc.subject | informative parameters | ru_RU |
| dc.subject | method of threshold logic | ru_RU |
| dc.subject | triple transformation of information parameters | ru_RU |
| dc.title | Прогнозирование надёжности биполярных транзисторов с использованием принципов пороговой логики методом троичного преобразования информативных параметров | ru_RU |
| dc.title.alternative | Forecasting reliability of bipolar transistor using threshold logic on the basis of triple transformation of information parameters | ru_RU |
| dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
| local.description.annotation | Probabilistic relationships between informative parameters of transistors and their up state level have been systematized. The new technique has been offered that allows using informative parameters with different behaviour to make prediction, in contrast to the base method of threshold logic. The technique is based on converting informative parameters into ternary code and making up a conclusion about transistor up state taking into account the set of ternary numbers. The technique has been shown to give better results of prediction comparing to the base method of threshold logic, but at the same time it is more complicated. | - |
| Appears in Collections: | 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
|
