| Title: | Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов |
| Other Titles: | Statistical analysis and optimization of integrated circuit technology using response surface methodology |
| Authors: | Стемницкий, В.В. |
| Keywords: | статистический анализ;технологические параметры ИМС;планирование эксперимента;аппроксимация;оптимизация;проектирование на технологичность |
| Issue Date: | 2004 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Стемницкий, В. В. Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов: автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / В. В. Стемницкий; науч. рук. В. В. Николаев. - Мн.: БГУИР, 2004. - 21 с. |
| Abstract: | Целью работы является разработка методов, алгоритмов и программного обеспечения для статистического анализа и оптимизации технологии ИМС, в том числе для проектирования в сети Интернет. |
| Alternative abstract: | The aim of the work is the development of methods, algorithms and software for statistical analysis and optimization of integrated circuit (IC) technology including design via Internet. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5114 |
| Appears in Collections: | 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
|
