DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Батура, А. А. | - |
dc.coverage.spatial | Минск | ru_RU |
dc.date.accessioned | 2023-05-10T05:52:21Z | - |
dc.date.available | 2023-05-10T05:52:21Z | - |
dc.date.issued | 2023 | - |
dc.identifier.citation | Батура, А. А. Оценка надёжности электронной системы безопасности с учётом устойчивых и временных отказов её функциональных устройств = Assessment of the reliability of the electronic safety system with considering stable and temporary failures of its functional devices / Батура А. А. // Электронные системы и технологии : сборник материалов 59-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 17–21 апреля 2023 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2023. – С. 71–75. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/51230 | - |
dc.description.abstract | На примере одного из помещений небольшого банковского учреждения показано, как при расчёте надёжности электронной системы безопасности, обеспечивающей защиту материальных ценностей от хищения, можно учесть устойчивые и временные отказы функциональных устройств системы. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
dc.subject | электронная система безопасности | ru_RU |
dc.subject | устойчивые отказы | ru_RU |
dc.subject | временные отказы | ru_RU |
dc.title | Оценка надёжности электронной системы безопасности с учётом устойчивых и временных отказов её функциональных устройств | ru_RU |
dc.title.alternative | Assessment of the reliability of the electronic safety system with considering stable and temporary failures of its functional devices | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
local.description.annotation | Using the example of one of the premises of a small banking institution, it is shown how, when calculating the reliability of an electronic security system that protects material assets from theft, one can take into account persistent and temporary failures of the system's functional devices. | ru_RU |
Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 59-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2023)
|