| Title: | Метод прогнозирования электрического функционального параметра биполярных транзисторов для длительных наработок |
| Other Titles: | Method for predicting the values of the electric functional parameter of bipolar transistors for a given operating time |
| Authors: | Калита, Е. В. |
| Keywords: | материалы конференций;биполярные транзисторы;имитационное воздействие;полупроводниковые приборы |
| Issue Date: | 2023 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Калита, Е. В. Метод прогнозирования электрического функционального параметра биполярных транзисторов для длительных наработок = Method for predicting the values of the electric functional parameter of bipolar transistors for a given operating time / Калита Е. В. // Электронные системы и технологии : сборник материалов 59-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 17–21 апреля 2023 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2023. – С. 148–151. |
| Abstract: | Рассматривается применение метода имитационного моделирования, позволяющего для биполярных транзисторов (с помощью предварительных исследований) получить модель для расчёта имитационного воздействия, вызывающего примерно такое же изменение электрического функционального параметра транзисторов, как и заданная длительная их наработка. Это позволяет в качестве прогнозного значения электрического параметра рассматривать результат его измерения при наличии на транзисторе имитационного воздействия, соответствующего заданной наработке. |
| Alternative abstract: | The application of the simulation method is considered, which allows for bipolar transistors (with the help of preliminary studies) to obtain a model for calculating a simulation effect that causes approximately the same change in the electrical functional parameter of transistors as their given long-term operating time. This allows us in the presence of a simulation effect on the transistor to consider the result of an electrical parameter measurement as its a predictive value of corresponding to a given operating time. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/51266 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 59-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2023)
|
