Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/51375
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШиманский, Н. А.-
dc.coverage.spatialМинскru_RU
dc.date.accessioned2023-05-16T06:28:09Z-
dc.date.available2023-05-16T06:28:09Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationШиманский, Н. А. Автоматизация обработки результатов рентгеновского дифракционного анализа материалов = Automation of processing of the results of x-ray diffraction analysis of materials / Шиманский Н. А. // Электронные системы и технологии : сборник материалов 59-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 17–21 апреля 2023 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2023. – С. 353–355.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/51375-
dc.description.abstractОписано разрабатываемое приложение для обеспечения анализа данных рентгеновской дифракции в автоматическом режиме. Преимуществом разрабатываемого решения является возможность использования компьютерного моделирования для сокращения временных затрат на обработку дифрактограмм, а также интеграция методов машинного обучения для повышения точности идентификации состава и свойств материалов.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectрентгеновский анализru_RU
dc.subjectдифракционный анализru_RU
dc.subjectоблачные данныеru_RU
dc.subjectмашинное обучениеru_RU
dc.titleАвтоматизация обработки результатов рентгеновского дифракционного анализа материаловru_RU
dc.title.alternativeAutomation of processing of the results of x-ray diffraction analysis of materialsru_RU
dc.typeArticleru_RU
local.description.annotationThe application being developed to provide analysis of X-ray diffraction data in automatic mode were described. The advantage of the developed solution is the possibility of using computer simulation to reduce the time spent on processing diffraction patterns, as well as the integration of machine learning methods to improve the accuracy of identifying the composition and properties of materials.ru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 59-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2023)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Shimanskii_Avtomatizaciya.pdf653.38 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.