https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/516| Title: | Повышение надежности транзисторов в металлокерамических микрокорпусах |
| Authors: | Турцевич, А. С. Волкенштейн, С. С. Керенцев, А. Ф. Хмыль, А. А. |
| Keywords: | транзистор;металлокерамический корпус;материалы конференций |
| Issue Date: | 2014 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Турцевич, А. С. Повышение надежности транзисторов в металлокерамических микрокорпусах // Международная научно-техническая конференция, приуроченная к 50-летию МРТИ–БГУИР (Минск, 18–19 марта 2014 года) : материалы конф. В 2 ч. Ч. 2 / редкол. : А. Н. Осипов [и др.]. – Минск : БГУИР, 2014.-C. 65-66 |
| Abstract: | Миниатюризация компонентов электронной техники и микроэлектроники приводит к необходимости ужесточения мониторинга технологического процесса герметизации сваркой. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/516 |
| ISBN: | 978-985-543-038-5 |
| Appears in Collections: | Секция «Микро- и наноэлектроника» |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| повышение.pdf | 451.4 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.