https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/51961| Title: | Оценка качества комбинированных АСМ-изображений на основе локальной корреляционной метрики |
| Other Titles: | Quality evalution of combined afm images based on local correlation metric |
| Authors: | Левоненко, И. И. Ловецкий, М. Ю. |
| Keywords: | материалы конференций;атомные микроскопы;силовые микроскопы;корреляционные метрики |
| Issue Date: | 2023 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Левоненко, И. И. Оценка качества комбинированных АСМ-изображений на основе локальной корреляционной метрики = Quality evalution of combined afm images based on local correlation metric / И. И. Левоненко, М. Ю. Ловецкий // Информационная безопасность : сборник материалов 59-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 17–21 апреля 2023 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2023. – С. 104–110. |
| Abstract: | Рассматривается задача взвешенного сложения компонентных изображений атомного силового микроскопа (АСМ). Получены зависимости локальной корреляционной метрики от размера окна корреляционного анализа и вклада компонентных АСМ-изображений в результирующее комбинированное АСМ-изображений. |
| Alternative abstract: | The problem of weighted addition of component images of an atomic force microscope (AFM) is considered. The dependences of the local correlation metric on the size of the correlation analysis window and the contribution of component AFM images to the resulting combined AFM images are obtained. A scheme for adaptive weighted summation of component AFM images is proposed. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/51961 |
| Appears in Collections: | Информационная безопасность : материалы 59-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2023) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Levonenko_Ocenka.pdf | 699.97 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.