DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Нерейко, А. И. | - |
dc.date.accessioned | 2015-12-10T09:04:39Z | |
dc.date.accessioned | 2017-07-20T08:02:27Z | - |
dc.date.available | 2015-12-10T09:04:39Z | |
dc.date.available | 2017-07-20T08:02:27Z | - |
dc.date.issued | 2000 | - |
dc.identifier.citation | Нерейко, А. И. Влияние слабых магнитных полей на свойства границы кремний-оксид кремния: автореф. дисс. ... кандидата физико-математических наук :05.27.01/ А. И. Нерейко; науч. рук. В. Е. Борисенко. - Мн.: БГУИР, 2000. - 16 с. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5232 | - |
dc.description.abstract | Разработан принцип и система автоматизированного контроля параметров МДП структур при воздействии слабых магнитных полей (СМП), приводящего к долговременным изменениям их параметров с применением алгоритма согласованного выборочного анализа. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | автореферат диссертаций | ru_RU |
dc.subject | граница раздела | ru_RU |
dc.subject | оксид кремния | ru_RU |
dc.subject | слабое магнитное поле | ru_RU |
dc.subject | interface | ru_RU |
dc.subject | silicon oxide | ru_RU |
dc.subject | low magnetic field | ru_RU |
dc.subject | charge transport | ru_RU |
dc.title | Влияние слабых магнитных полей на свойства границы кремний-оксид кремния | ru_RU |
dc.title.alternative | Low magnetic fields influence on the properties of silicon silicone-oxide interface | ru_RU |
dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
local.description.annotation | Proposed is a principle and system of automated control of parameters of metal- insulator- semiconductor (MIS) structures exposed to low magnetic fields (LMF) which causes long-term variation of their parameters; the algorithm of the consistent sampling analysis is proposed | - |
Appears in Collections: | 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
|