| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Таболич, Т. Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-12-15T14:13:25Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-20T08:39:21Z | - |
| dc.date.available | 2015-12-15T14:13:25Z | |
| dc.date.available | 2017-07-20T08:39:21Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Таболич, Т. Г. Термические методы выявления ранних отказов электронных модулей пластиковых карт: автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Т. Г. Таболич; науч. рук. Л. М. Лыньков. - Мн.: БГУИР, 2005. - 20 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5293 | - |
| dc.description.abstract | Целью работы являются разработка новых методик испытаний на надежность электронных модулей пластиковых карт, термических методов и средств определения отказов и исследование эксплутационных характеристик электронных модулей. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
| dc.subject | электронный модуль | ru_RU |
| dc.subject | пластиковая карта | ru_RU |
| dc.subject | процесс развития отказа | ru_RU |
| dc.subject | ранний отказ | ru_RU |
| dc.subject | приработка | ru_RU |
| dc.subject | термовыдержка | ru_RU |
| dc.subject | время окончания массовых отказов | ru_RU |
| dc.subject | electronic modules | ru_RU |
| dc.subject | plastic card | ru_RU |
| dc.subject | process of failure development | ru_RU |
| dc.subject | early failure | ru_RU |
| dc.subject | bum-in | ru_RU |
| dc.subject | temperature endurance | ru_RU |
| dc.subject | time of mass fails termination | ru_RU |
| dc.title | Термические методы выявления ранних отказов электронных модулей пластиковых карт | ru_RU |
| dc.title.alternative | The thermal methods of detection of plastic cards electronic modules early failures | ru_RU |
| dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
| local.description.annotation | The aim of the work electronic modules plastic cards operating characteristics, development of security modules reliability testing methods and express-evaluation based on them. | - |
| Appears in Collections: | 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
|
