DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
dc.contributor.author | Петровская, В. В. | - |
dc.contributor.author | Иванюк, А. А. | - |
dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
dc.date.accessioned | 2024-01-03T07:05:59Z | - |
dc.date.available | 2024-01-03T07:05:59Z | - |
dc.date.issued | 2023 | - |
dc.identifier.citation | Формальная модель описания и условия обнаружения связных неисправностей взаимного влияния запоминающих устройств = Formal description model and conditions for detecting linked coupling faults of the memory devices / В. Н. Ярмолик [и др.] // Информатика. – 2023. – № 4 (20). – С. 7–23. | en_US |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/53952 | - |
dc.description.abstract | Целью работы являются разработка и анализ формальной модели описания сложных связных
неисправностей взаимного влияния запоминающих устройств и формулировка необходимых и достаточных условий их обнаружения. Актуальность данных исследований заключается в том, что современные
запоминающие устройства, характеризующиеся большим объемом хранимых данных и изготовленные
по новейшим технологическим нормам, отличаются проявлением в них сложных разновидностей неисправностей.
Результаты исследования основаны на классической теории и практике однократных маршевых тестов (March tests) запоминающих устройств. В частности, в работе используются формальные математические модели описания неисправностей памяти и показывается их ограниченность для представления связных неисправностей взаимного влияния. Главная идея предлагаемого авторами подхода
заключается в применении нового формального описания подобных неисправностей, ключевым элементом которого является использование ролей, выполняемых ячейками запоминающего устройства, участвующими в неисправности.
Определены три основные роли, которые выполняют ячейки связной неисправности взаимного влияния, а именно: роль агрессора (A), роль жертвы (V), а также роль, включающая роли жертвы
и агрессора (B), выполняемые двумя ячейками одновременно по отношению друг к другу. Показано, что
сценарий реализации ролей ячеек неисправности памяти определяется применяемым маршевым тестом
и в первую очередь используемой им адресной последовательностью обращения к ячейкам. Приведена
процедура построения формальной модели связной неисправности, основу которой составляют роли,
выполняемые ячейками, входящими в неисправность, и сценарий, задаваемый тестом. На базе нового
формального описания связных неисправностей взаимного влияния сформулировано утверждение, определяющее необходимые и достаточные условия обнаружения подобных неисправностей. Показывается
наличие необнаруживаемых неисправностей взаимного влияния и определяется возможность их обнаружения в рамках многократных маршевых тестов. Проведенные экспериментальные исследования подтвердили справедливость сформулированных положений статьи. На базе классического примера связной
неисправности взаимного влияния показано выполнение необходимых и достаточных условий ее обнаружения однократным маршевым тестом.
Результаты исследований подтверждают, что предложенная формальная математическая модель описания связных неисправностей взаимного влияния позволяет идентифицировать их покрытие маршевыми тестами. В рамках предложенной модели определяются необходимые и достаточные условия обнаружения связных неисправностей взаимного влияния маршевыми тестами, покрывающими одиночные связные неисправности. | en_US |
dc.language.iso | ru | en_US |
dc.publisher | Объединенный институт проблем информатики Национальной академии наук Беларуси | en_US |
dc.subject | публикации ученых | en_US |
dc.subject | вычислительные системы | en_US |
dc.subject | маршевые тесты | en_US |
dc.subject | адресная последовательность | en_US |
dc.title | Формальная модель описания и условия обнаружения связных неисправностей взаимного влияния запоминающих устройств | en_US |
dc.title.alternative | Formal description model and conditions for detecting linked coupling faults of the memory devices | en_US |
dc.type | Article | en_US |
dc.identifier.DOI | https://doi.org/10.37661/1816-0301-2023-20-4-7-23 | - |
local.description.annotation | Objectives. The aim of the work is to develop and analyze a formal model for describing complex linked
coupling faults of memory devices and to formulate the necessary and sufficient conditions for their detection.
The relevance of these studies lies in the fact that modern memory devices, characterized by a large amount of
stored data and manufactured according to the latest technological standards, are distinguished by the
manifestation of complex types of faults in them.
Methods. The presented results are based on the classical theory and practice of march tests (March tests) of
memory devices. In particular, the paper uses formal mathematical models for describing memory faults and
shows their limitations for representing complex linked coupling faults. The main idea of the approach proposed
by the authors is based on the use of a new formal description of such faults, the key element of which is the
introduction of roles performed by the cells involved in the fault.
Resul t s. Three main roles are defined that cells of the complex linked coupling faults perform, namely the role
of the aggressor (A), the role of the victim (V), as well as the role of both the victim and the aggressor (B),
performed by two cells simultaneously in relation to each other. It is shown that the scenario for the implementation
of the roles of memory failure cells is determined by the marching test used, and, first of all, by the address
sequence used to access the cells. The procedure for setting a formal model of a linked fault is given, the basis of
which is the roles performed by the cells included in the fault and the scenario specified by the test. A statement
is given that determines, on the basis of a new formal description of linked coupling faults, the necessary and
sufficient conditions for the detection of such faults. The presence of undetectable linked coupling faults is
shown, and the conditions for their detection are formulated using multiple March tests. The conducted
experimental studies have confirmed the validity of the formulated provisions of the article. On the basis of the
classical example of a linked coupling fault, the fulfillment of necessary and sufficient conditions for its
detection by a single march test is shown.
Conclusion. The results of the research confirm that the proposed formal mathematical model for describing
linked coupling faults makes it possible to determine their detection by marching tests. Within the framework of
the proposed model, the necessary and sufficient conditions for detecting linked coupling faults by marching
tests that detect single coupled faults are determined. | en_US |
Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|