Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/54251
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДоан, Тхе Хоанг-
dc.coverage.spatialМинскen_US
dc.date.accessioned2024-02-13T13:36:21Z-
dc.date.available2024-02-13T13:36:21Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationДоан, Тхе Хоанг. Формирование тонкопленочных слоев с высокой диэлектрической проницаемостью на основе сложных оксидов реактивным магнетронным распылением : автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.06 / Тхе Хоанг Доан ; науч. рук. Д. А. Голосов. – Минск : БГУИР, 2023. – 21 с.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/54251-
dc.description.abstractЦелью исследования является разработка методов контролируемого формирования тонких пленок сложных оксидов реактивным магнетронным распылением составных мишеней, методов контроля и управления их составом, электрофизическими свойствами, которые определяют возможность использования данного класса пленок в качестве диэлектрических слоев современных МОП интегральных схем.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherБГУИРen_US
dc.subjectавторефераты диссертацийen_US
dc.subjectтонкие пленкиen_US
dc.subjectсложные оксидыen_US
dc.subjectсоставные мишениen_US
dc.titleФормирование тонкопленочных слоев с высокой диэлектрической проницаемостью на основе сложных оксидов реактивным магнетронным распылениемen_US
dc.typeThesisen_US
Appears in Collections:05.27.06 Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Avtoreferat-Doan-The-Hoang.pdf1.04 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.