Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5530
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorТелеш, Е. В.-
dc.contributor.authorДостанко, А. П.-
dc.contributor.authorВашуров, А. Ю.-
dc.date.accessioned2016-02-10T12:36:24Z-
dc.date.accessioned2017-07-13T06:28:59Z-
dc.date.available2016-02-10T12:36:24Z-
dc.date.available2017-07-13T06:28:59Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationТелеш, Е. В. Оптические характеристики тонких пленок диоксида кремния, полученных прямым осаждением из ионных пучков / Е. В. Телеш, А. П. Достанко, А. Ю. Вашуров //Доклады БГУИР . – 2015. - № 8 (94). – С. 81 – 85.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5530-
dc.description.abstractИсследовано влияние парциального давления смеси моносилана и аргона и температуры подложки на оптические характеристики тонкопленочных покрытий из диоксида кремния, полученных прямым осаждением из ионных пучков на подложках из стекла и кремния с использованием торцевого холловского ускорителя в качестве источника ионов. Установлено, что увеличение парциального давления смеси моносилана и аргона приводит к росту скорости нанесения и коэффициента преломления и снижению оптического пропускания покрытий. Повышение температуры подложки способствовало улучшению оптических характеристик слоев диоксида кремния, что объясняется увеличением подвижности адатомов и стимулированием химического взаимодействия между кремнием и кислородом.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectионные пучкиru_RU
dc.subjectпрямое осаждениеru_RU
dc.subjectторцевой холловский ускорительru_RU
dc.subjectдиоксид кремнияru_RU
dc.subjectоптические покрытияru_RU
dc.subjectоптические характеристики.ru_RU
dc.titleОптические характеристики тонких пленок диоксида кремния, полученных прямым осаждением из ионных пучковru_RU
dc.title.alternativeOptical performances of silicon dioxide thin films received by direct deposition from ion beamsru_RU
dc.typeArticleru_RU
local.description.annotationInfluence of fractional pressure of monosilane and argon intermixture and substrate temperature on optical performances of thin-film coatings from the silicon dioxide, received by direct deposition from ion beams on substrates from a glass and silicon with use of the end Hall accelerator as a ion source is investigated. It is positioned, that the magnification of fractional pressure of monosilane and argon intermixture of results in to growth of deposition rate and a refractivity and decrease in an optical transmission of coatings. Rise in substrate temperature promoted improvement of optical performances of silicon dioxide layers that explains magnification of adatoms mobility and chemical interaction boost between silicon and oxygen.-
Appears in Collections:№8 (94)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Telesh_Opticheskiye.PDF820.27 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.