Прогнозирование надежности изделий электронной техники по постепенным отказам методом имитационных воздействий

Abstract

В работе показано, как по данным проведенного обучающего эксперимента (предварительные исследования выборки транзисторов интересующего типа) получать имитационную модель в виде функции пересчета заданной наработки на значение имитационного тока коллектора. Измерение электрического параметра при имитационном токе коллектора у конкретного экземпляра, из числа не принимавших участия в обучающем эксперименте, дает прогнозное значение электрического параметра этого экземпляра для заданной длительной наработки, что позволяет принять решение о соответствии или несоответствии прогнозируемого экземпляра требованию надежности по постепенным отказам для этой наработки. Полученные результаты позволили уточнить, а затем внедрить в практику методику индивидуального прогнозирования надежности биполярных транзисторов по постепенным отказам для интересующих длительных наработок.