| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ланкевич, Ю. Ю. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-02-16T08:48:01Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T08:58:49Z | - |
| dc.date.available | 2016-02-16T08:48:01Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-19T08:58:49Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Ланкевич Ю. Ю. Сборка общего изображения топологии СБИС // Информационные технологии и системы 2015 (ИТС 2015): материалы международной научной конференции (БГУИР, Минск, Беларусь, 28 октября 2015). - Information Technologies and Systems 2015 (ITS 2015): Proceeding of the International Conference (BSUIR, Minsk, Belarus, 28th October 2015) / редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск: БГУИР, 2015. – С. 160-161 | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-543-171-9 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5635 | - |
| dc.description.abstract | Рассматривается задача сборки общего изображения слоя топологии сверхбольших интегральных микросхем (СБИС) из кадров, полученных путём фотографирования микроскопом технологического слоя микросхемы. Предлагается вариант алгоритма решения задачи совмещения путём анализа матриц ошибок совмещений. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | интегральных микросхемы СБИС | ru_RU |
| dc.title | Сборка общего изображения топологии СБИС | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ИТС 2015
|
