| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Рабцевич, В. В. | - |
| dc.contributor.author | Цветков, В. Ю. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2024-07-26T08:00:53Z | - |
| dc.date.available | 2024-07-26T08:00:53Z | - |
| dc.date.issued | 2024 | - |
| dc.identifier.citation | Рабцевич, В. В. Оценка точности градиентной волновой сегментации АСМ-изображений = Assessment of the accuracy of gradient wave segmentation of AFM-images / В. В. Рабцевич, В. Ю. Цветков // Технологии передачи и обработки информации : материалы Международного научно-технического семинара, Минск, апрель 2024 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол.: В. Ю. Цветков [и др.]. – Минск, 2024. – С. 50–53. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/56712 | - |
| dc.description.abstract | Исследована эффективность алгоритма автоматической сегментации
изображений, полученных с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ), основанного на
квазипараллельном выращивании областей вокруг локальных максимумов. Алгоритм
использует оценку изменения второй производной от яркости внутри области для
присоединения к ней соседних пикселей. Произведено сравнение данного алгоритма с
известными алгоритмами сегментации, разработанными для анализа АСМ-изображений, по
количеству сегментов. Показано, что данный алгоритм способен определить границы
объектов лучше, чем известные алгоритмы. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | сегментация | en_US |
| dc.subject | атомно-силовая микроскопия | en_US |
| dc.subject | градиенты | en_US |
| dc.title | Оценка точности градиентной волновой сегментации АСМ-изображений | en_US |
| dc.title.alternative | Assessment of the accuracy of gradient wave segmentation of AFM-images | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | The effectiveness of an algorithm for automatic segmentation of images obtained using
atomic force microscopy (AFM), based on quasi-parallel growing of regions around local maxima,
has been studied. The algorithm uses an estimate of the change in the second derivative of brightness
within an area to attach neighboring pixels to it. This algorithm was compared with known
segmentation algorithms developed for analyzing AFM images by the number of segments. It is
shown that the developed algorithm is able to determine the boundaries of objects better than known
algorithms. | en_US |
| Appears in Collections: | Технологии передачи и обработки информации : материалы Международного научно-технического семинара (2024)
|
