Определение эффективности моделей прогнозирования надежности полупроводниковых приборов методом статистического имитационного моделирования

Abstract

Экспериментально исследованы закономерности информативных параметров полупроводниковых приборов (ППП) и с учётом выбраны условия статистического имитационного моделирования обучающего эксперимента (информативных параметров для классов надёжных и потенциально ненадёжных экземпляров для заданной наработки). При этом предоставлось возможным использовать обучающую выборку, включающую тысячи экземпляров каждого класса. По результатам обучающего эксперимента выполнялась оценка эффективности следующих методов прогнозирования класса надёжности ППП для заданной наработки: метод статистических решений, метод потенциальных функций, метод пороговой логики с преобразованием информативных параметров в двоичный и троичный дискретные коды.