Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5882
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБересневич, А. И.-
dc.date.accessioned2016-03-02T07:13:06Z-
dc.date.accessioned2017-07-19T11:13:11Z-
dc.date.available2016-03-02T07:13:06Z-
dc.date.available2017-07-19T11:13:11Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationБересневич, А. И. Использование напряжения коллектор–эмиттер в качестве имитационного фактора для прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов / А. И. Бересневич // Технические средства защиты информации: Тезисы докладов Х Белорусско-российской научно-технической конференции, 29–30 мая 2012 г., Минск. - Минск: БГУИР, 2012. - С. 62.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5882-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectбиполярные транзисторыru_RU
dc.subjectлинейная корреляционная связьru_RU
dc.titleИспользование напряжения коллектор–эмиттер в качестве имитационного фактора для прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторовru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:ТСЗИ 2012

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Beresnevich_Ispolzovaniye.PDF318.15 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.