Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59516
Title: Прогнозирование электрических функциональных параметров биполярных транзисторов для длительных наработок
Other Titles: Forecasting electrical functional parameters of bipolar transistors for long-term operating time
Authors: Боровиков, С. М.
Жук, Е. В.
Keywords: материалы конференций;защита информации;биполярные транзисторы;имитационное воздействие;ток коллектора
Issue Date: 2025
Publisher: БГУИР
Citation: Боровиков, С. М. Прогнозирование электрических функциональных параметров биполярных транзисторов для длительных наработок = Forecasting electrical functional parameters of bipolar transistors for long-term operating time / С. М. Боровиков, Е. В. Жук // Технические средства защиты информации : материалы ХXIII Международной научно-технической конференции, Минск, 08 апреля 2025 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники [и др.] ; редкол.: О. В. Бойправ [и др.]. – Минск, 2025. – С. 92–97.
Abstract: В работе на примере мощных биполярных транзисторов КТ872А показана возможность прогнозирования функциональных параметров биполярных транзисторов для длительных наработок путем использования электрических воздействий, в частности тока коллектора, в качестве имитационного фактора. Прогнозирование возможного значения электрического функционального параметра транзистора (например, коэффициента усиления) для длительной наработки в данном методе сводится к измерению в начальный момент времени у прогнозируемого экземпляра значения его электрического функционального параметра при значении тока коллектора (или обратного напряжения на коллекторе), соответствующим имитационному уровню для заданной наработки. Уровни рассчитывают по функции связи имитационного тока коллектора (или обратного напряжения) с заданной наработкой. Функцию связи получают с помощью предварительных исследования выборки транзисторов рассматриваемого типа. Использование тока или напряжения в качестве имитационных воздействий заметно уменьшают длительность процедуры прогнозирования электрического функционального параметра транзисторов в сравнении с использованием температуры в качестве имитационного воздействия. Предложенный метод не требует сложного и дорогостоящего оборудования, необходимого для получения имитационной температуры и поддержания ее постоянной при измерении функционального параметра прогнозируемого экземпляра.
Alternative abstract: The paper uses the example of powerful bipolar transistors KT872A to demonstrate the possibility of predicting the functional parameters of bipolar transistors for long-term operation by using electrical effects, in particular, the collector current, as a simulation factor. Predicting the possible value of the electrical functional parameter of a transistor (for example, the gain) for a long-term operation in this method comes down to measuring the value of the electrical functional parameter of the predicted specimen at the initial moment of time at the value of the collector current (or reverse voltage on the collector) corresponding to the simulation level for the specified operation. The levels are calculated using the coupling function of the simulation collector current (or reverse voltage) depending on the specified operating time. The coupling function is obtained using preliminary studies of a sample of transistors of the type under consideration. Using current or voltage as simulation effects significantly reduces the duration of the procedure for predicting the electrical functional parameter of transistors in comparison with using temperature as a simulation effect. The proposed method does not require complex and expensive equipment necessary for obtaining the simulated temperature and maintaining it constant when measuring the functional parameter of the predicted specimen.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59516
Appears in Collections:ТСЗИ 2025

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Borovikov_Prognozirovanie.pdf352.65 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.