Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6172
Title: Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента
Authors: Шнейдеров, Е. Н.
Keywords: материалы конференций;параметрическая надёжность;транзисторы Дарлингтона КТ8225;полевые транзисторы КП723;интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН
Issue Date: 2014
Publisher: БГУИР
Citation: Шнейдеров, Е. Н. Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента / Е. Н. Шнейдеров // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХII Белорусско-российской научно-технической конференции, 28–29 мая 2014 г., Минск. – Минск : БГУИР, 2014. — С. 52 - 53.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6172
Appears in Collections:ТСЗИ 2014

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Shneyderov_Polucheniye.PDF395.8 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.