https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6212| Title: | Статистические закономерности между деградацией параметров изделий электроники и их изменениями в условиях действия имитационных факторов |
| Authors: | Бересневич, А. И. |
| Keywords: | материалы конференции;имитационные факторы;биполярные транзисторы |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Бересневич, А. И. Статистические закономерности между деградацией параметров изделий электроники и их изменениями в условиях действия имитационных факторов / А. И. Бересневич // Технические средства защиты информации: тезисы докладов XI Белорусско-российской научно-технической конференции, 5 – 6 июня 2013 г., Минск. - Минск: БГУИР, 2013. - С. 84. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6212 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2013 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Beresnevich_Statisticheskiye.PDF | 324.66 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.