Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6652
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorФурсов, Д. Ю.-
dc.date.accessioned2016-05-05T07:59:51Z
dc.date.accessioned2017-07-20T12:16:38Z-
dc.date.available2016-05-05T07:59:51Z
dc.date.available2017-07-20T12:16:38Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationФурсов, Д. Ю. Влияние температуры на электрические характеристики МОП транзисторов в КНИ структурах : автореф. дисс. ... магистра технических наук : 1- 41 80 03 / Д. Ю. Фурсов ; науч. рук. В. П. Бондаренко. – Минск : БГУИР, 2016 . – 6 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6652-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectМОП - транзисторыru_RU
dc.subjectизмеренияru_RU
dc.titleВлияние температуры на электрические характеристики МОП транзисторов в КНИ структурахru_RU
dc.typeAbstract of the thesisru_RU
Appears in Collections:1-41 80 03 Нанотехнологии и наноматериалы (в электронике)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Автореферат.pdf419.3 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.